產(chǎn)品名稱：Nexview? NX2

Nexview? NX23D光學(xué)輪廓儀

Nexview NX2光學(xué)輪廓儀

SiC測(cè)試結(jié)果，清晰看清水晶紋路和拋光過(guò)程痕跡

Mx軟件界面

全自動(dòng)200mm集成測(cè)試平臺(tái)

Nexview? NX2 光學(xué)輪廓儀是為更高應(yīng)用需求設(shè)計(jì)的，集超精密、先進(jìn)算法、應(yīng)用靈活性和自動(dòng)化為一體，*大程度展現(xiàn)了ZYGO相干掃描干涉(CSI)技術(shù)的能力。

Nexview? NX2 光學(xué)輪廓儀采用的是非接觸式測(cè)量技術(shù)，具有亞納米測(cè)量精度（所有放大倍數(shù)下），可以更快更好地測(cè)量各種樣品表面，是一款具有非常高投資回報(bào)率的產(chǎn)品。滿足各種應(yīng)用需求，包括平面度，粗糙度和波紋度，薄膜，臺(tái)階高度，適用于幾乎任何材質(zhì)表面，因此Nexview NX2是一款不容錯(cuò)過(guò)的產(chǎn)品。

Nexview NX2作為*新一代的旗艦機(jī)型，提供更大范圍可分辨特征來(lái)實(shí)現(xiàn)讓用戶的計(jì)量更好、更快和更可靠：

? 大面積1.9 MP傳感器：高靈敏度，在單次測(cè)量中獲取更多的信息

? 高速測(cè)量：只需幾秒時(shí)間，優(yōu)化的測(cè)試能力和程序控制

? 自動(dòng)零件聚焦和定位：減少操作員測(cè)試差異，提高培訓(xùn)和測(cè)試效率

? 重復(fù)性特征：優(yōu)異的測(cè)量精度和可重復(fù)性，為高要求的生產(chǎn)應(yīng)用提供服務(wù)

? 抗震計(jì)量：SureScan抗震技術(shù)，在震動(dòng)環(huán)境下也可實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量的計(jì)量

? SmartPSI?技術(shù)：對(duì)超光滑表面進(jìn)行快速分析測(cè)量

? 2D和3D的相關(guān)性：測(cè)量結(jié)果符合ISO 25178和ISO 4287標(biāo)準(zhǔn)。

? Mx?軟件：實(shí)現(xiàn)儀器控制、分析和測(cè)量自動(dòng)化

? 真彩**像：增強(qiáng)可視化效果

? 可變圖像縮放：三個(gè)內(nèi)置變焦鏡頭，優(yōu)化視場(chǎng)以及實(shí)現(xiàn)儀器的靈活性

你所需要的光學(xué)輪廓儀

您不用再根據(jù)你要測(cè)量的樣品表面類(lèi)型來(lái)選擇輪廓儀。Nexview NX2輪廓儀可以測(cè)量不同類(lèi)型的樣品表面，包括精密拋光光學(xué)樣品表面（亞埃級(jí)sub-Angstrom表面粗糙度），到陡峭加工角度（85度）。所有測(cè)試都是三維、非接觸式測(cè)量，提供非常上等的測(cè)量結(jié)果。

分析&控制軟件

Nexview NX2輪廓儀使用ZYGO Mx?軟件，支持完整系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)分析，包括豐富的交互式3D繪圖，量化的形貌信息，直觀的測(cè)量導(dǎo)航以及內(nèi)置的SPC統(tǒng)計(jì)，質(zhì)量控制圖，通過(guò)/失敗條件設(shè)置。

?交互式3D繪圖：縮放，平移，旋轉(zhuǎn)，并實(shí)時(shí)更新結(jié)果。

?靈活分析：一系列定量分析結(jié)果、數(shù)據(jù)視圖和過(guò)濾器。

?直觀的用戶界面：易于學(xué)習(xí)和使用的流程界面設(shè)計(jì)。

?內(nèi)置SPC分析工具：跟蹤結(jié)果，監(jiān)控合格和不合格的標(biāo)準(zhǔn)，跟蹤處理數(shù)據(jù)。

還有滿足特殊應(yīng)用需求的應(yīng)用程序模塊，如透明薄膜的樣品測(cè)量，2D圖像分析等。

自動(dòng)化操作

Nexview NX2輪廓儀是電子化設(shè)備，無(wú)需手動(dòng)控制，可以完全自動(dòng)化編程序列測(cè)量多個(gè)零件，菜單化零件測(cè)量，以及零件表面大尺寸拼接測(cè)試。

簡(jiǎn)潔，流線型設(shè)計(jì)

Nexview NX2輪廓儀有很大的工作區(qū)域，測(cè)試界面條理清晰，使測(cè)量設(shè)置和操作簡(jiǎn)單&快速。

其200毫米自動(dòng)化測(cè)量平臺(tái)是簡(jiǎn)潔高效的工業(yè)化設(shè)計(jì)的縮影，并具有±4度高負(fù)載傾斜功能包含校正運(yùn)算—這使得測(cè)量調(diào)整變得十分簡(jiǎn)單，甚至對(duì)于表面特征不明顯的樣品。